化學分析是測定單礦物的一種比較重要的分析方法，但樣品需破碎、淘洗、磁選、人工鏡下挑選、研磨、溶礦（酸溶或堿熔）、檢測等分析流程，效率極其低下。

銅礦物在自然界存在形式多樣，有原生帶次生富集帶和氧化帶等，共生礦物和伴生礦物眾多，各類礦物均存在類質同象（例如黝銅礦和砷黝銅礦）或者鏡下光學特征相似（例如磁黃鐵礦和方黃銅礦）的現象，傳統的巖礦鑒定方法利用偏光、反光顯微鏡或實體顯微鏡等設備難以鑒別，對于此類礦物的鑒別需要借助化學分析方法或微區分析技術。

微區分析技術（電子探針、同步輻射、全反射微區分析）已在地質、環境、考古和材料科學等領域獲得了應用。在半導體材料方面，微探針和同步輻射技術為摻雜元素的行為研究提供 了新的方法：在考古方面應用微區能量色散x射線熒光元索成像法測定陶瓷中重金屬元素；在地質學方面，應用x射線熒光光譜（XRF）微區分析技術分析隕石；應用微束X射線熒光微區測定了鈾礦石；應用微束微區X熒光探針分析儀檢測心礦石內的礦物顆粒。

研究內容既有定性描述（繪制待測組分測區分布圖），也有定量分析。但所用分析儀器價格昂貴，普及率不高，制樣復雜（電子探針、同步輻射），或者分辨率不高（微束X射線分析儀、全反射X射線光譜儀），譜線重疊嚴重等問題難以滿足巖礦鑒定的實際需要。

帶微區分析功能的波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）具有價格相對便宜、穩定性好，分析速度快、分辨率高等優點，測區面積可根據需要鑒定礦物的大小進行調整，實現原位分析。

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